【愛集微點評】日聯科技公開的X射線無損檢測裝置及檢測方案，透過移動機構帶動探測器到達檢測空間內的任意位置，保證探測器始終對焦於光管元件的射線源的焦點。該方案在對待檢測工件進行無損檢測時，功能全面且操作簡單，實現了多方位、全形度的檢測。
集微網訊息，無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態的前提下，對被檢驗部件的表面和內部質量進行檢查的一種測試手段。常用的無損探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷以及著色探傷等方法。其中，X射線檢測作為無損探傷的核心技術，日前常常應用在工件的無損檢測過程中。
然而在目前的X射線檢測裝置中，其功能比較單一，僅能夠實現對工件進行2D檢測類、2。5D檢測類、線上2D檢測類、線上2。5D檢測類或線上CT檢測類中的一種無損檢測型別。隨著行業內對工件品質要求的提升，對X‑ray無損檢測的要求也越來越高，單一功能的X射線檢測裝置無法響應客戶所有的需求。
因此，為了實現對工件2D、2。5D、線上2D、線上2。5D以及線上CT等所有功能的無損檢測，日聯科技在2022年3月1日申請了一項名為“一種X射線無損檢測裝置及檢測方法”的發明專利（申請號：202210194512。0），申請人為無錫日聯科技股份有限公司。
根據該專利目前公開的相關資料，讓我們一起來看看這項技術方案吧。
如上圖，為該專利中公開的X射線無損檢測裝置的結構示意圖，該X射線無損檢測裝置包括鉛房100、輸送機構200、光管元件300以及探測裝置。其中，鉛房上設有第一送料口102和第二送料口，第一送料口和第二送料口設定在鉛房相對的兩個側壁上，第一送料口處設有可開合的第一防護鉛門。
當需要放置待檢測工件時，將第一防護鉛門落下，以使待檢測工件進入鉛房內。待檢測工件進入鉛房後，提升第一防護鉛門以封堵第一送料口，從而在鉛房內部形成檢測空間。第二送料口處設有可開合的第二防護鉛門，例如也可以設定為升降鉛門。當待檢測工件的無損檢測完成，需要取出完成檢測的工件時，將第二防護鉛門落下，以使完成檢測的工件移出鉛房；當待檢測工件進行無損檢測時，第二防護鉛門保持提升狀態以封堵第二送料口。
輸送機構設定在鉛房內，輸送機構上設有載物臺，載物臺用於放置待檢測工件，其能夠將載物臺從第一送料口處移動至檢測工位。光管元件同樣設定在鉛房內位於輸送機構的下方，光管元件的射線源被配置為向待檢測工件傳送X射線。探測裝置包括探測器和移動機構，探測器安裝在移動機構上，移動機構固定在鉛房頂部的內側，移動機構被配置為帶動探測器在檢測空間內移動。
透過移動機構能夠帶動探測器到達檢測空間內的任意位置，並保證探測器始終對焦於光管元件的射線源的焦點，從而實現球面運動檢測。因此，該X射線無損檢測裝置功能全面，操作簡單，實現了多方位、全形度的檢測。
如上圖，為省卻鉛房的X射線無損檢測裝置的結構示意圖，該旋轉機構包括固定座401、旋轉軸402和軸承。固定座固定在鉛房頂部的內側，旋轉軸安裝在固定座上，軸承設定在固定座與旋轉軸之間，旋轉軸能夠在固定座內實現360°旋轉，旋轉軸的中心軸與Z軸方向平行。
而直線運動機構包括第一連線板403、第一滑軌404和第一滑塊405。第一連線板與旋轉軸固定連線且第一連線板與旋轉軸的中心軸線垂直設定，第一滑軌固定在第一連線板上且第一滑軌與第一連線板垂直，其能夠沿第一方向在第一滑軌滑動。當光管元件對物料進行檢測需要將探測器上、下移動時，直線運動機構透過第一滑軌可實現將探測器上下移動。
最後，上圖為探測裝置結構的區域性放大示意圖，其中，弧線運動機構包括第二連線板406、第二滑軌407和第二滑塊408。第二連線板固定在第一滑塊上，該方案中定義X軸和Z軸所形成的平面為第一平面，第二連線板與第一平面平行設定，第二滑軌設定在第二連線板上，第二滑塊能夠沿第二滑軌滑動，探測器設定在第二滑塊上。
第二連線板設定為弧形滑軌，從而第二滑塊能夠沿第二滑軌滑動，從而帶動探測器在與第二連線板所在的平面內沿弧線移動，保證探測器在檢測空間內的靈活運動。因此，在旋轉機構、直線運動機構和弧線運動機構的配合下，探測器能夠實現對待檢測工件的球面運動檢測。
此外，該方案中還提供了一種X射線無損檢測裝置的檢測方法，主要包括四個步驟：
1）第一防護鉛門開啟，輸送機構的載物臺移動至第一送料口處；
2）將待檢測工件放置到載物臺後，第一防護鉛門關閉，輸送機構將待檢測工件從第一送料口處移動至檢測工位；
3）光管元件移動到對應的檢測位置，並向待檢測工件傳送X射線，保證探測器始終對焦於光管元件的射線源的焦點，對待檢測工件進行無損檢測；
4）待檢測工件的全部面掃描完成之後，輸送機構將待檢測工件送至第二送料口處，第二防護鉛門開啟，將待檢測工件從第二送料口取出，以更換下一個待檢測工件。
以上就是日聯科技公開的X射線無損檢測裝置及檢測方案，該方案透過移動機構帶動探測器到達檢測空間內的任意位置，保證探測器始終對焦於光管元件的射線源的焦點。該方案在對待檢測工件進行無損檢測時，功能全面且操作簡單，實現了多方位、全形度的檢測。
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