2021-11-02晶片驗證功能測試BIST

上述三個功能級使用的驗證技術包括功能驗證、功能測試和內建自檢（BIST），結合這三個對晶片不同設計階段提供保證的工具，將會使設計出合格晶片的信心同步倍增...