求職攻| 什麼時候CMOS門的功耗最大？
( )A DFT的主要目的是發現晶片在生產過程中出現的缺陷B DFT測試不能覆蓋電路的時序問題C DFT主要包含SCAN，LBIST和MBISTD DFT測試過程通常會消耗大量的動態功耗解析：本題目主要考察了DFT（可測性設計）知識點DFT...
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( )A DFT的主要目的是發現晶片在生產過程中出現的缺陷B DFT測試不能覆蓋電路的時序問題C DFT主要包含SCAN，LBIST和MBISTD DFT測試過程通常會消耗大量的動態功耗解析：本題目主要考察了DFT（可測性設計）知識點DFT...